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GIS密封試驗(yàn)方法檢測(cè)方法
日期：2024-12-26 06:09
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摘要：GIS密封試驗(yàn)方法檢測(cè)方法
密封試驗(yàn)是通過(guò)檢測(cè)SF6氣體的泄漏量，來(lái)判定氣室的年漏氣率是否合格，控制標(biāo)準(zhǔn)是每一獨(dú)立氣室的年漏氣率不大于0.5％；《電氣設(shè)備交接試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)》條文說(shuō)明中提出兩種試驗(yàn)方法和控制標(biāo)準(zhǔn)：
1、采用靈敏度不低于l×10-6（體積比）的檢漏儀對(duì)氣室密封部分、管道接頭等處進(jìn)行檢測(cè)時(shí)SF6檢漏儀未發(fā)生報(bào)警認(rèn)為合格。
2、采用局部包扎法，待24h后檢測(cè)每個(gè)包扎腔內(nèi) SF6含量不大于30 ppm（體積比）即為合格。
目前采用**種試驗(yàn)方法較為準(zhǔn)確，其實(shí)施程序是：抽真空檢驗(yàn)→SF6氣體→泄漏檢驗(yàn)。具體過(guò)程為：在GIS經(jīng)真空檢...
GIS密封試驗(yàn)方法檢測(cè)方法
密封試驗(yàn)是通過(guò)檢測(cè)SF6氣體的泄漏量，來(lái)判定氣室的年漏氣率是否合格，控制標(biāo)準(zhǔn)是每一獨(dú)立氣室的年漏氣率不大于0.5％；《電氣設(shè)備交接試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)》條文說(shuō)明中提出兩種試驗(yàn)方法和控制標(biāo)準(zhǔn)：
1、采用靈敏度不低于l×10-6（體積比）的檢漏儀對(duì)氣室密封部分、管道接頭等處進(jìn)行檢測(cè)時(shí)SF6檢漏儀未發(fā)生報(bào)警認(rèn)為合格。
2、采用局部包扎法，待24h后檢測(cè)每個(gè)包扎腔內(nèi) SF6含量不大于30 ppm（體積比）即為合格。
目前采用**種試驗(yàn)方法較為準(zhǔn)確，其實(shí)施程序是：抽真空檢驗(yàn)→SF6氣體→泄漏檢驗(yàn)。具體過(guò)程為：在GIS經(jīng)真空檢漏并靜止SF6氣體5 h后，用塑料薄膜在法蘭接口等處包扎，再過(guò)24h后進(jìn)行檢測(cè)，如果有一處薄膜內(nèi)SF6氣體的濃度大于30 ppm，則該氣室漏氣率不合格。如果所有包扎薄膜內(nèi)SF6氣體的濃度均小于30ppm，則認(rèn)為該氣室漏氣率合格。
密封試驗(yàn)是通過(guò)檢測(cè)SF6氣體的泄漏量，來(lái)判定氣室的年漏氣率是否合格，控制標(biāo)準(zhǔn)是每一獨(dú)立氣室的年漏氣率不大于0.5％；《電氣設(shè)備交接試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)》條文說(shuō)明中提出兩種試驗(yàn)方法和控制標(biāo)準(zhǔn)：
1、采用靈敏度不低于l×10-6（體積比）的檢漏儀對(duì)氣室密封部分、管道接頭等處進(jìn)行檢測(cè)時(shí)SF6檢漏儀未發(fā)生報(bào)警認(rèn)為合格。
2、采用局部包扎法，待24h后檢測(cè)每個(gè)包扎腔內(nèi) SF6含量不大于30 ppm（體積比）即為合格。
目前采用**種試驗(yàn)方法較為準(zhǔn)確，其實(shí)施程序是：抽真空檢驗(yàn)→SF6氣體→泄漏檢驗(yàn)。具體過(guò)程為：在GIS經(jīng)真空檢漏并靜止SF6氣體5 h后，用塑料薄膜在法蘭接口等處包扎，再過(guò)24h后進(jìn)行檢測(cè)，如果有一處薄膜內(nèi)SF6氣體的濃度大于30 ppm，則該氣室漏氣率不合格。如果所有包扎薄膜內(nèi)SF6氣體的濃度均小于30ppm，則認(rèn)為該氣室漏氣率合格。
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